电子元器件的结构陶瓷材料检测

SJ/T 10760-1996 电子元器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法

Designation system for names and models of structural ceramic materials for electronic components

GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料

本标准规定了电子元器件结构陶瓷材料（以下简称陶瓷材料）的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于装置零件、电子管、电阻基体、半导体及集成电路等用的各种陶瓷材料

Structure ceramic materials used in electronic components

GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料

本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料

Structure ceramic materials used in electronic component and device

GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure

GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。 标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chemical durability

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure

GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法

本标准适用于氧化铝瓷，氧化铍瓷，镁橄榄石瓷等电子陶瓷透液性的检验

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for liquid permeability

GB 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

Performance test methods for structural ceramic materials of electronic components Test methods for air tightness

GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法

GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

Test methods for performance of structural ceramic materials for electronic components Test methods for volume resistivity

GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity

GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、镁橄榄石、氮化物陶瓷等电子陶瓷透液性的检验方法。本部分适用于品红溶液检验法(俗称吸红法)来检验电子陶瓷表面及内部的不正常孔隙、微裂纹及是否生烧

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 7:Test method for liquid permeability

GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法

GB/T 5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试方法。本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试。本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性

Test methods for properties of structure ceramics used in electronic component and device.Part 6:Test method for chemical durability

GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value

SJ/T 10760-1996 电子元器件结构陶瓷材料的名称和牌号的命名方法

Designation system for names and models of structural ceramic materials for electronic components

GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料

本标准规定了电子元器件结构陶瓷材料（以下简称陶瓷材料）的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于装置零件、电子管、电阻基体、半导体及集成电路等用的各种陶瓷材料

Structure ceramic materials used in electronic components

GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料

本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料

Structure ceramic materials used in electronic component and device

GB/T 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定

本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure

GB/T 5594.6-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。 标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chemical durability

GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure

GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness

GB/T 5594.7-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法

本标准适用于氧化铝瓷，氧化铍瓷，镁橄榄石瓷等电子陶瓷透液性的检验

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for liquid permeability

GB 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法

Performance test methods for structural ceramic materials of electronic components Test methods for air tightness

GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法

GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion

GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

Test methods for performance of structural ceramic materials for electronic components Test methods for volume resistivity

GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for volume resistivity

GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法

GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、镁橄榄石、氮化物陶瓷等电子陶瓷透液性的检验方法。本部分适用于品红溶液检验法(俗称吸红法)来检验电子陶瓷表面及内部的不正常孔隙、微裂纹及是否生烧

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 7:Test method for liquid permeability

GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法

GB/T 5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试方法。本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试。本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性

Test methods for properties of structure ceramics used in electronic component and device.Part 6:Test method for chemical durability

GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value