底部填充胶高温耐热试验

📅 发布时间:2026-09-09 👤 来源:北检院 👁 阅读:

技术概述

随着微电子封装技术向高密度、小型化、高性能方向快速发展,倒装芯片技术、球栅阵列封装以及芯片级封装等先进封装形式得到了广泛应用。在这些封装结构中,由于硅芯片与基板材料(如FR-4、陶瓷等)的热膨胀系数存在显著差异,在回流焊、环境温湿度循环以及实际工作过程中,焊点处会产生巨大的热应力,极易导致焊点疲劳断裂甚至脱落,从而造成电子器件失效。为了解决这一关键可靠性问题,底部填充胶应运而生,并被大量应用于芯片封装工艺中。

底部填充胶是一种专门设计用于填充芯片与基板之间微小间隙的环氧树脂类胶粘剂。它通过毛细作用流入并充满芯片底部的空隙,固化后能够有效地将芯片与基板“锁”在一起,重新分布热应力,保护焊点,从而大幅提升封装组件的抗跌落性能和热循环寿命。然而,在实际应用场景中,电子设备往往会面临严苛的高温工作环境,例如汽车电子、航空航天及高性能计算服务器等领域,这就要求底部填充胶必须具备卓越的高温耐热性能。如果胶粘剂在高温下发生软化、降解或粘接力丧失,将直接导致封装失效。

因此,底部填充胶高温耐热试验成为评估封装可靠性不可或缺的关键环节。该试验旨在模拟极端高温环境或温度剧烈变化工况,对底部填充胶的热稳定性、玻璃化转变温度、高温下的机械强度保持率以及耐热老化性能进行系统性的量化评估。通过科学严谨的高温耐热试验,工程师可以筛选出合适的材料配方,验证封装工艺的可靠性,预测产品的使用寿命,从而确保电子元器件在复杂热环境下的长期稳定运行。这不仅关乎产品的质量安全,更是企业提升核心竞争力、降低售后成本的重要技术手段。

底部填充胶的耐热性通常涉及其物理化学性质的稳定性。在高温条件下,高分子链段运动加剧,若温度超过材料的玻璃化转变温度,胶体将从坚硬的玻璃态转变为柔软的高弹态,模量急剧下降,对焊点的保护作用将大打折扣。此外,长期的热暴露可能导致聚合物发生氧化降解、断链或交联密度变化,进而引起变色、脆化、分层等问题。因此,高温耐热试验不仅仅是简单的加热测试,而是一套包含热学性能分析、机械性能测试以及微观形貌观察的综合检测体系,贯穿于材料研发、来料检验及可靠性验证的全生命周期。

检测样品

底部填充胶高温耐热试验的检测样品通常根据具体的测试项目、测试标准以及客户需求进行准备。样品的状态和形式直接影响试验结果的准确性与代表性。通常情况下,检测样品主要分为以下几类:

  • 原材料液体样品: 对于主要关注胶液本身热学性能(如固化特性、热分解温度、玻璃化转变温度)的测试,客户会提供未固化的液体底部填充胶。实验室将按照规定的固化工艺(温度曲线、时间)制备成标准试样,如浇铸成哑铃状样条或圆形薄片,用于后续的热分析及力学测试。
  • 固化后的标准试样: 客户或实验室将液体胶固化后,加工成符合国际标准(如ASTM、IPC等)尺寸的试样。例如,用于剪切强度测试的圆柱形或方形胶点,用于拉伸强度测试的哑铃形样条。这些标准试样消除了基板和芯片结构的干扰,能够单纯地反映底部填充胶材料本身的高温力学性能。
  • 实际封装组件: 在可靠性验证阶段,检测样品往往是真实的电子元器件或封装模块。例如,经过底部填充工艺处理的倒装芯片、BGA封装体或PCBA组件。这类样品能够真实反映胶粘剂在实际界面应力分布下的耐热表现,检测重点在于高温后的分层情况、焊点完整性以及界面结合强度。
  • 对比样品: 为了验证不同配方或不同工艺条件下的耐热性能差异,客户通常会提供多组平行样品或对比样品,以便进行横向数据分析。

在样品准备过程中,样品的保存条件(如低温冷藏防止预固化)、固化工艺的严格执行以及试样的外观质量(无气泡、无裂纹)都是确保试验有效性的前提条件。实验室在接收样品时,会对样品的数量、状态、包装及标识进行详细登记与核查,确保样品满足各项高温耐热试验的要求。

检测项目

底部填充胶高温耐热试验涵盖了一系列关键的物理及化学性能指标,通过多维度的检测数据来全面评价材料的耐热等级与可靠性。主要的检测项目包括但不限于以下内容:

  • 玻璃化转变温度: Tg点是衡量高分子材料耐热性能的核心指标。Tg值越高,通常意味着材料在较高温度下仍能保持刚性。通过差示扫描量热法(DSC)或热机械分析法(TMA)测定Tg值及其在热老化后的变化量(ΔTg),可评估材料的固化程度和耐热上限。
  • 热膨胀系数: CTE反映了材料随温度变化发生体积膨胀或收缩的程度。底部填充胶的CTE必须与芯片和基板相匹配,否则在高温下会产生过大的内应力导致界面分层。CTE测试通常在Tg温度前后分别进行测定。
  • 高温剪切强度: 在高温环境(如125°C、150°C或更高)下测试底部填充胶的剪切强度。该指标直接反映了胶粘剂在高温工况下抵抗机械破坏的能力。若高温剪切强度大幅下降,说明材料在高温下容易发生蠕变或脱粘。
  • 高温拉伸强度与断裂伸长率: 评估材料在高温环境下的抗拉能力和韧性。耐热性好的底部填充胶在高温下仍应保持一定的模量和强度,同时具备一定的韧性以吸收应力。
  • 热失重分析: 通过测量材料质量随温度变化的关系,确定底部填充胶的热分解温度(Td)。这是评价材料短时耐极端高温能力及热稳定性的重要参数,通常以失重5%时的温度作为评价指标。
  • 高温高湿老化后性能: 将样品置于高温高湿环境(如85°C/85%RH)下进行长时间老化,随后测试其机械性能变化或进行电性能测试,评估材料在湿热耦合环境下的耐候性。
  • 耐热冲击性能: 通过在极端高温和极端低温之间进行快速转换循环,测试底部填充胶的抗热疲劳能力,观察是否出现裂纹、分层等现象。

检测方法

为了获取准确、可重复的检测数据,底部填充胶高温耐热试验需严格遵循相关的国家标准、行业标准或国际标准。针对不同的检测项目,采用的具体试验方法如下:

1. 差示扫描量热法(DSC): 依据GB/T 19466、ASTM E1356等标准,在程序控温下,测量输入到试样和参比物的热流差随温度或时间的变化。通过DSC曲线上的吸热或放热台阶,精确测定底部填充胶的玻璃化转变温度。该方法样品量少、灵敏度高,是测定Tg最常用的方法。此外,DSC还可用于测定固化反应的放热峰,评估固化度。

2. 热机械分析法(TMA): 依据GB/T 1039、ASTM E831等标准,对试样施加一定的载荷,在程序控温下测量试样尺寸随温度的变化。TMA不仅可以测定Tg,更关键的是能够精确测量底部填充胶在玻璃态和高弹态下的热膨胀系数(CTE)。TMA探针可探测微小的尺寸变化,对于评估胶层在热循环中的应力匹配性至关重要。

3. 热重分析法(TGA): 依据GB/T 27761、ASTM E1131等标准,在程序控温下,测量物质的质量随温度或时间的变化关系。TGA测试通常在氮气或空气气氛中进行,以模拟不同环境下的热稳定性。通过分析热重曲线,可获得材料的起始分解温度、失重速率及热稳定性寿命数据,为判定材料能否承受回流焊峰值温度提供依据。

4. 高温万能试验机测试: 针对高温剪切强度和拉伸强度,采用配备高温环境试验箱的万能材料试验机。依据GB/T 7124、ASTM D1002(剪切)及GB/T 1040、ASTM D638(拉伸)等标准,将试样置于预热至目标温度的高温炉中保温一定时间,使试样整体受热均匀,然后以恒定的速率进行加载,记录力-位移曲线,计算高温下的强度和模量。

5. 高加速寿命试验与热冲击试验 依据JESD22-A104、JESD22-A106等标准,使用高低温冲击试验箱。试验条件通常设定为-40°C至+125°C或更严酷的温区,驻留时间、转换时间均按标准执行。试验后通过金相切片分析、超声波扫描显微镜(C-SAM)检查胶层内部及界面是否产生缺陷。

6. 超声波扫描显微镜检测(C-SAM): 作为一种无损检测手段,C-SAM利用超声波在不同介质界面反射的特性,能够清晰地检测出底部填充胶在高温试验后是否发生了分层、空洞或裂纹。这对于评估高温环境下的界面结合完整性具有极高的实用价值。

检测仪器

底部填充胶高温耐热试验的精准实施离不开先进的仪器设备支持。专业实验室配备了一系列高端分析测试仪器,以确保数据的权威性与准确性。主要的核心仪器设备包括:

  • 差示扫描量热仪(DSC): 用于精确测量玻璃化转变温度、熔点及固化反应热。仪器具备高灵敏度的传感器和精准的温度控制系统,能够检测微小的热流变化。
  • 热机械分析仪(TMA): 配备不同类型的探针(如膨胀探针、针入探针),用于测量材料的热膨胀系数和软化点。现代TMA仪器具备极低的漂移和极高的位移分辨率。
  • 热重分析仪(TGA): 具备高精度的微量天平系统,能够实时监测样品在高温气氛下的质量变化,用于评估材料的热分解特性和成分分析。
  • 动态热机械分析仪(DMA): 在程序控温下,对试样施加交变应力或应变,测量材料的储能模量、损耗模量及阻尼因子随温度的变化。DMA比DSC更灵敏地反映材料的Tg及高分子链段的运动特性,是评价高温粘弹性能的强力工具。
  • 高温万能材料试验机: 配备环境温度箱,温度范围通常可覆盖-70°C至+300°C,载荷传感器精度高,能够执行高温下的拉伸、压缩、剪切等力学性能测试。
  • 高低温热冲击试验箱: 分为两箱式或三箱式,能够实现温度的极速转换,模拟严酷的温度冲击环境,用于考核产品的耐热疲劳性能。
  • 超声波扫描显微镜(C-SAM): 具备高频聚焦探头,能够对封装器件进行无损扫描,通过波形分析生成内部结构的图像,精准定位分层和空洞缺陷。
  • 金相显微镜与扫描电子显微镜(SEM): 用于对高温试验后的样品进行微观形貌观察,分析断裂机理、界面失效模式及微观结构变化。

应用领域

底部填充胶高温耐热试验的应用领域十分广泛,几乎涵盖了所有涉及到先进电子封装制造的行业。随着电子产品对可靠性要求的不断提升,该试验在以下领域发挥着至关重要的作用:

  • 半导体封装测试行业: 封装厂在进行倒装芯片、WLCSP、BGA等封装工艺开发及量产监控时,必须对底部填充胶进行严格的高温耐热测试,以确保封装成品能承受后续的回流焊工艺及实际使用中的热负荷。
  • 汽车电子行业: 随着电动汽车及智能驾驶技术的发展,车规级电子元器件的工作环境日益恶劣。发动机舱内温度可高达125°C以上,且需经受严苛的温度循环冲击。底部填充胶的高温可靠性直接关系到汽车安全控制系统、动力系统及娱乐系统的稳定运行,因此车规级产品的耐热试验标准最为严苛。
  • 通信与消费电子行业: 智能手机、平板电脑、高性能服务器等设备不仅集成度高,且长期处于工作发热状态。特别是5G通信基站的射频器件和基带芯片,功耗大、发热量高,必须使用耐热性能优异的底部填充胶,并通过相关试验验证其寿命。
  • 航空航天与军工行业: 在高空、宇宙空间或极端作战环境下,电子设备面临极端的温差变化和辐射环境。底部填充胶必须在宽温域范围内保持性能稳定,高温耐热试验是保障航空航天电子设备高可靠性的必经之路。
  • 胶粘剂研发与生产领域: 材料厂商在开发新型耐高温底部填充胶配方时,需要通过大量的耐热试验数据来优化树脂体系、固化剂及填料的选择,以达到更低的CTE和更高的Tg值。

常见问题

问题一:底部填充胶高温耐热试验的检测周期是多久?

底部填充胶高温耐热试验的检测周期一般为7-15个工作日。具体时间会受到多种因素的影响,例如检测项目的数量和复杂程度。如果仅进行基础的热学性能测试(如DSC测Tg),周期较短;若涉及长时间的老化试验(如1000小时的高温储存)或热冲击循环测试,周期则会相应延长。此外,样品数量、前处理时间以及实验室的排期情况也会影响最终报告的出具时间。如客户有加急需求,实验室可提供加急服务通道。

问题二:底部填充胶高温耐热试验的检测是多少?

底部填充胶高温耐热试验的检测并非固定不变,而是根据具体的检测需求进行。影响的主要因素包括检测项目的种类与数量(单项测试或全项套餐)、采用的测试标准与方法、所需样品的制备难度以及检测周期的要求。例如,进行高温拉伸强度测试可能比简单的Tg测试涉及更多的人工与设备损耗。为了获取准确的,建议客户提前与检测机构联系,提供详细的测试需求,工程师将根据具体情况制定方案并提供优惠。

问题三:底部填充胶高温耐热试验测试需要什么资质?

进行底部填充胶高温耐热试验需要具备专业的检测资质。我们旗下拥有CMA(中国计量认证)和CNAS(中国合格评定国家认可委员会)资质,这代表我们的实验室建立了符合国际标准的质量管理体系,具备开展相关检测活动的能力。我们的检测团队由经验丰富的工程师组成,配备了国际先进的分析测试仪器,能够严格按照国家标准或行业标准进行操作,确保数据的公正、科学、准确,可为客户提供具有社会证明作用的检测服务。

问题四:为什么玻璃化转变温度对底部填充胶如此重要?

玻璃化转变温度是底部填充胶耐热性能的标志性指标。当工作温度低于Tg时,胶体处于玻璃态,具有较高的模量和硬度,能有效保护焊点;当温度超过Tg,胶体转变为高弹态,模量急剧下降,热膨胀系数大幅升高。此时,底部填充胶将失去对焊点的加固作用,且过大的膨胀系数会产生巨大的内应力,极易导致芯片分层或焊点断裂。因此,选择底部填充胶时,其Tg值必须高于元器件的最高工作温度。

问题五:如何判断底部填充胶在高温下是否发生了分层?

判断分层主要依赖于微观分析技术。最常用的方法是在高温试验后使用超声波扫描显微镜(C-SAM)进行无损检测,超声波在不同介质界面会产生反射波,若存在分层(空气层),波形特征会发生明显改变,图像上会显示明显的“亮区”。此外,也可以对样品进行破坏性分析,如制作金相切片,在显微镜下直接观察芯片与胶层、胶层与基板的界面状态,直观地确认是否存在裂纹或分层失效。

问题六:底部填充胶的热膨胀系数(CTE)越低越好吗?

通常情况下,底部填充胶的CTE确实是越低越好。因为硅芯片的CTE约为2-3 ppm/°C,而普通基板(如FR4)的CTE约为14-17 ppm/°C,两者差异巨大。底部填充胶的作用是中和这种差异,如果胶体的CTE过高,在受热时其自身膨胀幅度大,会对脆弱的焊点和芯片界面产生巨大的剪切应力。因此,研发人员通常通过添加二氧化硅填料等手段来降低胶体的CTE,使其尽可能接近芯片和焊点的CTE,从而减少热应力损伤。

问题七:高温耐热试验中为何要进行热冲击测试?

热冲击测试是为了模拟电子设备在极端温度急剧变化环境下的可靠性,如汽车冷启动、设备开关机瞬间等。与缓慢升温的高温储存试验不同,热冲击试验要求在极短的时间内(如几秒到几分钟)完成高低温转换,这在材料内部会产生巨大的瞬态热应力。这种测试能够加速暴露底部填充胶与芯片、基板界面结合的薄弱环节,比单纯的稳态高温测试更能有效评估材料的抗热疲劳性能和界面匹配性。

编辑:北检院编辑部

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