开关二极管检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ 1229-1977 2AK1~20型锗开关二极管

Detail specification for germanium switching diodes,Type 2AK1~20

KS C 5213-1981(1997 保证可靠性小电流开关二极管

RELIABILITY ASSURED LOW CURRENT SWITCHING DIODES

BS IEC 60747-3:2013 半导体器件.分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管

Semiconductor devices. Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes

BS 9300 C534:1971 硅同轴电阻开关二极管详细规范

This Specification covers the detail requirements for a Silicon Coaxial Resistive Switching Diode and is in accordance with K1007 except where

Detail specification for silicon coaxial resistive switching diode

KS C IEC 60747-3-1:2006 半导体器件.分立器件.第3部分:信号二极管(包括开关二极管)和调节二极管.第1节:信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管空白详细规范

이 규격은 신호 다이오드, 스위칭 다이오드 및 제어 애벌란시 다이오드의 개별 규격 지침에

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 3:Signal (including switching) and regulator diodes-Section one:Blank detail specification for signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diodes

IEC 60747-3-1:1986 半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范

Applicable to quality assessment for signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes. Gives specific requirements (included in QC

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 3 : Signal (including switching) and regulator diodes. Section One: Blank detail specification for signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diodes

JIS C7224-1980 有可靠性保证的低电流开关二极管

Reliability assured low current switching diodes

SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法

Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes

DLA MIL-PRF-19500/256 C NOTICE 2-1999 1N643,1N662和1N663型硅制开关二极管半导体装置

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, SILICON, SWITCHING, TYPES 1N643, 1N662 AND 1N663

CSN 35 8768-1983 半导体开关二极管.电气参数测量方法

Schválenie ST SEV 3198-81 odporu?ilo Federálně ministerstvo elektrotechnického priemyslu. Spracovatel: TESLA Pie??any, koncernov? podnik

Semiconductor switching diodes. Electric parameters measurement methods

IEC 60747-3:2013 半导体器件.第3部分:分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管

This part of IEC 60747 gives the requirements for the following devices: ?C signal diodes (excluding diodes designed to operate at frequencies above

Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes

CSN 35 8766-1976 半导体器件.开关二极管.正向电压的测量

Spracovatel: Tesla Ro?nov, n. p'., závod Pie??any - Ján Gregori?ka Pracovník ??adu pre normalizáciu a meranie: pově?en? Ing. Václav Prusr - ?tátne

Semieonductor devices. Switching diodes. Measurement cf forward volíage.

SJ 20071-1992 半导体分立器件.2CK4148型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK4148

SJ 20069-1992 半导体分立器件.2CK76型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK76

SJ 20070-1992 半导体分立器件.2CK105型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK105

SJ 1229-1977 2AK1~20型锗开关二极管

Detail specification for germanium switching diodes,Type 2AK1~20

KS C 5213-1981(1997 保证可靠性小电流开关二极管

RELIABILITY ASSURED LOW CURRENT SWITCHING DIODES

BS IEC 60747-3:2013 半导体器件.分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管

Semiconductor devices. Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes

BS 9300 C534:1971 硅同轴电阻开关二极管详细规范

This Specification covers the detail requirements for a Silicon Coaxial Resistive Switching Diode and is in accordance with K1007 except where

Detail specification for silicon coaxial resistive switching diode

KS C IEC 60747-3-1:2006 半导体器件.分立器件.第3部分:信号二极管(包括开关二极管)和调节二极管.第1节:信号二极管、开关二极管和受控雪崩二极管空白详细规范

이 규격은 신호 다이오드, 스위칭 다이오드 및 제어 애벌란시 다이오드의 개별 규격 지침에

Semiconductor devices-Discrete devices-Part 3:Signal (including switching) and regulator diodes-Section one:Blank detail specification for signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diodes

IEC 60747-3-1:1986 半导体器件 分立器件 第3部分:信号二极管(包括开关二极管)及调整二极管 第1节:信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范

Applicable to quality assessment for signal diodes, switching diodes and controlled avalanche diodes. Gives specific requirements (included in QC

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 3 : Signal (including switching) and regulator diodes. Section One: Blank detail specification for signal diodes, switching diodes and controlled-avalanche diodes

JIS C7224-1980 有可靠性保证的低电流开关二极管

Reliability assured low current switching diodes

SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法

Methods of measurement for reverse breakdown voltage of silicon switching diodes

DLA MIL-PRF-19500/256 C NOTICE 2-1999 1N643,1N662和1N663型硅制开关二极管半导体装置

SEMICONDUCTOR DEVICE, DIODE, SILICON, SWITCHING, TYPES 1N643, 1N662 AND 1N663

CSN 35 8768-1983 半导体开关二极管.电气参数测量方法

Schválenie ST SEV 3198-81 odporu?ilo Federálně ministerstvo elektrotechnického priemyslu. Spracovatel: TESLA Pie??any, koncernov? podnik

Semiconductor switching diodes. Electric parameters measurement methods

IEC 60747-3:2013 半导体器件.第3部分:分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管

This part of IEC 60747 gives the requirements for the following devices: ?C signal diodes (excluding diodes designed to operate at frequencies above

Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes

CSN 35 8766-1976 半导体器件.开关二极管.正向电压的测量

Spracovatel: Tesla Ro?nov, n. p'., závod Pie??any - Ján Gregori?ka Pracovník ??adu pre normalizáciu a meranie: pově?en? Ing. Václav Prusr - ?tátne

Semieonductor devices. Switching diodes. Measurement cf forward volíage.

SJ 20071-1992 半导体分立器件.2CK4148型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK4148

SJ 20069-1992 半导体分立器件.2CK76型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK76

SJ 20070-1992 半导体分立器件.2CK105型硅开关二极管详细规范

Semiconductor discrete device.Detail specification for silicon switching diode for type 2CK105

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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1000+ 台套先进设备

配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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资深技术团队

汇聚材料科学、化学分析、环境工程等领域专家,拥有10年+行业经验,提供专业可靠的检测分析服务。

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标准检测周期短至3个工作日,加急服务24小时出具报告,全程一对一工程师跟进,确保高效交付。

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全国服务网络

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荣誉资质

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

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通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

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经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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仪器设备

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检测流程

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01

需求沟通

客户提交检测需求,技术顾问一对一沟通,明确检测项目与标准。

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02

样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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03

实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

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04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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05

报告出具

出具检测报告,支持电子版与纸质版,快递送达。

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