集成电路模拟/数字转换器检测

📅 发布时间:2024-05-27 👤 来源:北检院 👁 阅读:

SJ 2482-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体件..接口.(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 2481-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路模拟一数字转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for A/D converters for hybrid integrated circuits

IEC 60748-4-3-2006 半导体件 - - 第4-3部分:接口 - (adc)的动态标准

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

IEC 60748-4-3:2006 半导体件..第4-3部分:接口./(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GJB 9388-2018 测试方法

SJ 2483-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2480-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路数字-模拟转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for D/A converters for hybrid integrated circuits

SJ/T 10818-1996 半导体非线性//测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

GB/T 18500.2-2001 半导体 第4部分;接口 第二篇: 线性/(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ 52438/11-2002 混合.HDA030型线性12位/详细规范

Hybrid integrated circuits Detail specification for type HDA030 linear 12 bit digital to analog converter

IEC 60748-4-2:1993 半导体件..第4部分:接口.第2节:线性-空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; Part 4: interface integrated circuits; section 2: blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)

GB/T 18500.1-2001 半导体 第4部分;接口 第一篇: 线性/(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-1:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

IEC 60748-4-1:1993 半导体 第4部分:接口 第1节:线性/空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; part 4: interface integrated circuits; section 1: blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

GOST 24736-1981

Digital-analogue and analogue-digital integrated converters. Basic parameters

SJ 2482-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体件..接口.(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 2481-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路模拟一数字转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for A/D converters for hybrid integrated circuits

IEC 60748-4-3-2006 半导体件 - - 第4-3部分:接口 - (adc)的动态标准

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

IEC 60748-4-3:2006 半导体件..第4-3部分:接口./(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GJB 9388-2018 测试方法

SJ 2483-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2480-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路数字-模拟转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for D/A converters for hybrid integrated circuits

SJ/T 10818-1996 半导体非线性//测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

GB/T 18500.2-2001 半导体 第4部分;接口 第二篇: 线性/(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

SJ 52438/11-2002 混合.HDA030型线性12位/详细规范

Hybrid integrated circuits Detail specification for type HDA030 linear 12 bit digital to analog converter

IEC 60748-4-2:1993 半导体件..第4部分:接口.第2节:线性-空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; Part 4: interface integrated circuits; section 2: blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)

GB/T 18500.1-2001 半导体 第4部分;接口 第一篇: 线性/(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-1:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

IEC 60748-4-1:1993 半导体 第4部分:接口 第1节:线性/空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; part 4: interface integrated circuits; section 1: blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

GOST 24736-1981

Digital-analogue and analogue-digital integrated converters. Basic parameters

编辑:北检院编辑部

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CMA/CNAS 双认证

旗下实验室具备国家认证认可监督管理委员会CMA资质认定及中国合格评定国家认可委员会CNAS实验室认可,检测报告具有国际公信力。

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配备扫描电镜、气质联用仪、电感耦合等离子体质谱仪等国际先进检测仪器,确保数据精准可靠。

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拥有规模化专业检测基地,涵盖材料、化工、食品、环境等多个专业实验室,满足多领域检测需求。

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CMA 检验检测机构资质认定

CMA 检验检测机构资质认定

国家认证认可监督管理委员会颁发,具备向社会出具具有证明作用数据的资质。

CNAS 实验室认可证书

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中国合格评定国家认可委员会认可,检测结果获国际互认,具有国际公信力。

ISO 质量管理体系认证

ISO 质量管理体系认证

通过ISO 质量管理体系认证,管理体系实现规范化、标准化。

绿色低碳诚信示范创建企业

绿色低碳诚信示范创建企业

荣获绿色低碳诚信示范创建企业称号,践行可持续发展理念,推动绿色低碳转型,助力"双碳"目标实现。

北京市创新型中小企业

北京市"创新型"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的创新型中小企业,具备较强创新能力与较高专业化水平,是优质中小企业梯度培育体系的重要基础力量。

北京市专精特新中小企业

北京市"专精特新"中小企业

经北京市经济和信息化局认定的专精特新中小企业,具备专业化、精细化、特色化、新颖化发展特征,在细分领域具有较强竞争优势。

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01

需求沟通

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样品寄送

客户按照规范要求寄送样品,实验室确认样品状态与数量。

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实验检测

专业工程师按照标准方法进行检测分析,全程质量控制。

04

数据审核

检测数据经多级审核,确保结果准确、可靠、可追溯。

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报告出具

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