服务热线:400-635-0567

集成电路数字/模拟转换器检测

发布时间:2024-05-27 17:49:26 - 更新时间:2024年06月29日 15:22

点击量:0

军工检测 其他检测

SJ 2483-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2480-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路数字-模拟转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for D/A converters for hybrid integrated circuits

GJB 9388-2018 测试方法

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体件..接口.(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 2482-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

SJ 2481-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路模拟一数字转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ/T 10818-1996 半导体非线性//测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

IEC 60748-4-3-2006 半导体件 - - 第4-3部分:接口 - (adc)的动态标准

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 52438/11-2002 混合.HDA030型线性12位/详细规范

Hybrid integrated circuits Detail specification for type HDA030 linear 12 bit digital to analog converter

IEC 60748-4-3:2006 半导体件..第4-3部分:接口./(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GB/T 18500.1-2001 半导体 第4部分;接口 第一篇: 线性/(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-1:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

IEC 60748-4-1:1993 半导体 第4部分:接口 第1节:线性/空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; part 4: interface integrated circuits; section 1: blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

GB/T 18500.2-2001 半导体 第4部分;接口 第二篇: 线性/(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

IEC 60748-4-2:1993 半导体件..第4部分:接口.第2节:线性-空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; Part 4: interface integrated circuits; section 2: blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)

0 子元件质量评估协调体系规范.半导体件..空白详细规.线性

SJ 2483-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ 2480-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路数字-模拟转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for D/A converters for hybrid integrated circuits

GJB 9388-2018 测试方法

BS IEC 60748-4-3:2007 半导体件..接口.(ADC)的动态标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 2482-1984 混合.系列和品种

1.1 本标准规定了混合集成电路模拟-数字转换器的系列和品种。系列按电路主要特性不同划分,计有通用、高性能、高速、超高速、高分辨力、低功耗六个系列。各系列的品种按代码、分辨力和速度划分。 1.2 生产单位生产(试制)和使用单位选用ADC时,其系列和品种应符合本标准的规定。 1.3

Series and types of D/A converters for hybrid integrated circuits

SJ 2481-1984 混合.静态测试方法的基本原理

本标准规定了混合集成电路模拟一数字转换器的静态测试方法的基本原理

General principles of static measurement for A/D converters for hybrid integrated circuits

SJ/T 10818-1996 半导体非线性//测试方法的基本原理

Semiconductor integrated circuits - General principles of measuring methods for D/A and A/D converters of non-linear circuits

IEC 60748-4-3-2006 半导体件 - - 第4-3部分:接口 - (adc)的动态标准

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

SJ 52438/11-2002 混合.HDA030型线性12位/详细规范

Hybrid integrated circuits Detail specification for type HDA030 linear 12 bit digital to analog converter

IEC 60748-4-3:2006 半导体件..第4-3部分:接口./(ADC)的动力学标准

This part of IEC 60748 specifies a set of measuring methods and requirements for testing ADCs under dynamic conditions, together with associated

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4-3: Interface integrated circuits - Dynamic criteria for analogue-digital converters (ADC)

GB/T 18500.1-2001 半导体 第4部分;接口 第一篇: 线性/(DAC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-1:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第一篇: 线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性DAC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 1: Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)

IEC 60748-4-1:1993 半导体 第4部分:接口 第1节:线性/空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; part 4: interface integrated circuits; section 1: blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC)

GB/T 18500.2-2001 半导体 第4部分;接口 第二篇: 线性/(ADC)空白详细规范

本标准等同采用国际电工委员会(IEC)标准IEC 748-4-2:1993《半导体器件 集成电路 第4部分: 接口集成电路 第二篇: 线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范》,以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。 本标准可作为编制线性ADC详细规范的依据

Semiconductor devices Integrated circuits Part 4: Interface integrated circuits Section 2: Blank detail specification for linear analogue-to-digital converters(ADC)

IEC 60748-4-2:1993 半导体件..第4部分:接口.第2节:线性-空白详细规范

Defines, in compliance with the IEC Quality Assessment System for Electronic Components, information to be given for: mechanical description, short

Semiconductor devices; integrated circuits; Part 4: interface integrated circuits; section 2: blank detail specification for linear analogue-to-digital converters (ADC)

0 子元件质量评估协调体系规范.半导体件..空白详细规.线性

检测流程
填写并提交定制服务需求表
技术评估和方案讨论
对选定的试验方法进行报价
合同签定与付款
按期交付检测报告和相关数据
想了解更多检测项目
请点击咨询在线工程师
点击咨询
联系我们
服务热线:400-635-0567
地址:北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
邮编:10000
总机:400-635-0567
联系我们

服务热线:400-635-0567

投诉建议:010-82491398

报告问题解答:010-8646-0567-8

周期、价格等

咨询

技术咨询